Prüftool für Microvia-Aspektverhältnis und Zuverlässigkeit

Gestapelte Microvias versagen bei zu hohem Aspektverhältnis durch Trennung entlang der Z-Achse – ein Risiko, auf das IPC bei hochzuverlässigen Leiterplatten hinweist. Prüfen Sie Ihr Microvia vor der Festlegung des Lagenaufbaus anhand des Prozessfensters für die Galvanisierung nach IPC-2226.